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近红外(NIR)成像光学系统

近红外(NIR)成像光学系统

采用长波段光源穿透复合材料内部1100-1700nm结构,实现深层结构可视化与无损缺陷检测。

产品特点:
1.更容易穿透材料
2.可过滤无关细节
3.深层结构可视化

产品亮点
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