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系统支持同步输出 2D 全景图、2.5D 深度图及 3D 点云数据,为表面外观检测、深度特征分析与三维形貌评估提供不同维度的数据基础。对于既关注微小缺陷、又需要获取高度或深度信息的检测任务,可根据实际需求灵活使用相应数据。 图:多格式数据输出(2D全景图·2.5D深度图·3D点云数据) 不同设备厂商在硬件选型、软件开发与系统集成方面存在差异。针对这些需求,慕藤光支持三种交付模式:软件独立销售、硬件独立销售,以及软硬件一体化全套方案交付。灵活的交付方式便于客户根据现有设备架构、研发能力及项目需求选择适合的合作模式,为设备升级与新项目开发提供更多配置空间。 图:多维灵活交付 04 应用实例——芯片金线尺寸及表面瑕疵检测 检测需求 检测金线包括断线、交叉、塌陷、虚焊、脏污、焊球偏离、线高及球高等。 检测难点 视觉方案 相机:2500W彩色CXP相机 镜管:MF-100-C-S 物镜:10X 物镜 光源:点光与碗光 检测效果 图:检测光芯片的金线尺寸及表面瑕疵多维灵活交付,适配不同设备集成方式
常规0.9–1mil 金线、存在约200 μm产品高度差,检测时间需要控制在1s内。

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